MCW-2000B型（渦流）涂層測(cè)厚儀

KD－1型（渦流）涂層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶，它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代國(guó)際同類儀器的先進(jìn)水平。KD－1（渦流）涂層型測(cè)厚儀器，是一種小型儀器，采用渦電流測(cè)量原理，可以方便無(wú)損地測(cè)量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽(yáng)極氧化膜厚度等。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)。 詳細(xì)介紹>>