X-RAY膜厚儀

詳細(xì)資料請(qǐng)致電：13761400826美國(guó)賽默飛世爾ThermoFisher（熱電）公司MicronX利用X-射線熒光的非接觸式的無(wú)損測(cè)試技術(shù)完美地用于微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)貯存工業(yè)的金屬薄膜測(cè)量�？梢酝瑫r(shí)測(cè)量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分，測(cè)量厚度可以從A(埃)至μ(微米)，他也能測(cè)量多至20個(gè)元素的塊狀合金成分。其光束和探測(cè)器的巧妙結(jié)合加上高級(jí)的數(shù)字處理技術(shù)使得MicronX能最佳地解決你的應(yīng)用。結(jié)果是ASIM（應(yīng)用專用儀器測(cè)量）在準(zhǔn)確度、精。 詳細(xì)介紹>>