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CAMECA阿美特克高分辨二次離子質(zhì)譜儀

更新時(shí)間:2014-04-01  瀏覽數(shù):2338
  • 圖片說明
  • 圖片標(biāo)簽:CAMECA,阿美特克,二次離子質(zhì)譜儀
NanoSIMS50L專門針對(duì)同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針。在CAMECA各系列的二次離子質(zhì)譜(SIMS)中,NanoSIMS50L因擁有很高的橫向分辨率而與眾不同。儀器設(shè)計(jì)獨(dú)特:一次離子槍與二次離子提取腔體采用光學(xué)共軸設(shè)計(jì);而磁質(zhì)譜部分也從一開始就采用多接受模式。 詳細(xì)介紹>>
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CAMECA阿美特克高分辨二次離子質(zhì)譜儀

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