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英國牛津面銅測厚儀CMI165​

更新時間:2017-10-26  瀏覽數(shù):3132
  • 圖片說明
  • 圖片標(biāo)簽:CMI165​,面銅測厚儀,英國牛津
英國牛津面銅測厚儀CMI165主要特點:-可測試高溫的PCB銅箔-顯示單位可為mils,μm或oz-可用于銅箔的來料檢驗-可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試-可用于電鍍銅后的面銅厚度測試-配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測試頭-可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試手持式CMI165表面銅厚測量儀性能:利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅厚測量,符合EN14571測試標(biāo)準(zhǔn),強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能,包括數(shù)據(jù)記錄、平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。 詳細(xì)介紹>>
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英國牛津面銅測厚儀CMI165​

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