EF－VS800系列三維光學(xué)掃描測量儀

EF－VS800系列三維光學(xué)掃描測量儀，是結(jié)合工業(yè)設(shè)計、生產(chǎn)中的實際情況開發(fā)的，應(yīng)用于三維復(fù)雜曲面逆向設(shè)計和三維全尺寸檢測的應(yīng)用系統(tǒng)。系統(tǒng)采用國際最先進(jìn)的外差式多頻相移三維光學(xué)測量技術(shù)，單幅測量幅面大�。◤�150mm到3米）、測量精度、測量速度等性能都達(dá)到國際最先進(jìn)水平，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗干擾能力強(qiáng)、受被測工件表面明暗影響小（工件一般不需要噴顯影劑），而且能夠測量表面劇烈變化的工件，三維光學(xué)掃描。 詳細(xì)介紹>>