F200一鍵快速測量儀

F200/300系列一鍵快速測量儀專為高速度和高精度測量而設計。一鍵快速測量儀具備出色的性能參數(shù)包括：超高精度：精度小于3微米（μm），在某些條件下，精度可達到1μ。高效率：一天內(nèi)能測量超過20,000片樣品。速度快：每片樣品的全部影像尺寸測量時間少于0.3秒。多功能性：除了基本的平面度、高度、厚度和輪廓度檢測，還可以通過添加燈光棱鏡進行弧高測量。應用領域：主要用于測量手機蓋板、玻璃、后蓋等，一鍵式一秒鐘閃測功能讓操。 詳細介紹>>