國產(chǎn)平面干涉儀150MM

G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設(shè)計，適用于計量機構(gòu)檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標準鏡等一系列高精技術(shù)，通過優(yōu)化光學系統(tǒng)和機械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)高精密平面光學元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件，實現(xiàn)數(shù)字化測量。G150S為G150M:的簡化版本，適合光學車間的現(xiàn)場檢驗。主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面。 詳細介紹>>