150㎜平面干涉儀上海乾曜光學(xué)科技
更新時(shí)間:2018-06-29 瀏覽數(shù):5578
- 圖片說(shuō)明
- 圖片標(biāo)簽:平面干涉儀,干涉儀
G150M型平面干涉儀:專(zhuān)為計(jì)量級(jí)測(cè)試的需求設(shè)計(jì),適用于計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集高性能、長(zhǎng)壽命氦氖激光器,1-6.7倍圖像放大功能,高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng),精密平面標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù),通過(guò)優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測(cè)量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件,實(shí)現(xiàn)數(shù)字化測(cè)量。G150S為G150M:的簡(jiǎn)化版本,適合光學(xué)車(chē)間的現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)。主要用途:平面類(lèi)光學(xué)元件(包括玻璃、金屬、陶瓷等)表面。
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