簡介
TR Scan, 毫無疑問, 將成為非接觸表面形貌測量領(lǐng)域最引人注目的創(chuàng)舉. 其系統(tǒng)核心采Trimos DHM®技術(shù), 廣泛應(yīng)用于生物及醫(yī)藥工程領(lǐng)域. 系統(tǒng)本身基于對表面結(jié)構(gòu)的物理全息特征分析, 此技
術(shù)被Trimos獨特地用于工業(yè)表面檢測, 與傳統(tǒng)非接觸表面測量儀器相比, 它可測量高反射表面, 鏡面
經(jīng)過拋光或者很小的部件TR Scan在滿足高速測量的同時, 也保證了納米級精度, 只需幾微秒就可以獲得百萬點三維圖形. 正是因為如此快的速度, 消除了因振動帶 來的所有誤差, 由此克服光學(xué)測量系統(tǒng)的傳統(tǒng)誤差.
其測量頭可兼容探針(接觸式測量), 并可與其他光學(xué)測量傳感器互換使用, 復(fù)合式的測量解決方案, 可檢定各種表面結(jié)構(gòu), 應(yīng)用于各行各業(yè): 機械工業(yè)(所有加工表面), 汽車, 航天航空, 表面涂敷, 聚合涂層, 光學(xué)元件, 醫(yī)學(xué)儀器, 假肢制造, 微型機電系統(tǒng), 造紙, 半導(dǎo)體, 科研機構(gòu)以及計量單位.
|
極快的測量速度
|
|
抗振動性高
|
|
Z軸納米級分辨率
|
|
激光找正迅速實現(xiàn)工件定位
|
|
非接觸式測量, 無損檢測
|
|
曲線及表面分析
|
|
自學(xué)習(xí)編程測量模式
|
|
可兼容各種2D及3D標準
|
Trimos® NanoWare
Trimos® NanoWare軟件控制測量過程及分析結(jié)果. 模塊化的概念滿足不同的要求及持續(xù)性開發(fā).
NanoWare僅能完成測量結(jié)果的分析評估, 并能生成專業(yè)的檢測報告.擁有國際權(quán)威的評價標準程序來實時更新國際標準測量符合以下標準: ISO(4287, 4288, 11562, 1101, 12085, 13563, 等), 法國標準NF, 制造標準CNOMO, ASME(B46.1)和DIN標準; 三維表面特征數(shù)據(jù)標準ISO 25178系列
|
操作簡便, 界面友好
|
|
功能靈活, 可二次開發(fā)
|
|
全自動測量
|
|
用戶自定義測量標準
|
|
包含所有2D及3D標準
|
Trimos® NanoWare LT
2D輪廓測量分析基本模塊. 使用極其簡單, 此模塊包
括評估表面參數(shù)的部分重要功能
|
輪廓, 粗糙度, 波度分析
|
|
最關(guān)鍵參數(shù)(Ra, Rq, Rt, ...)
|
|
線材比率曲線
|
|
成型, 拉平, 視圖等濾波器
|
|
所有測量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
|
Trimos® NanoWare XT
2D輪廓測量分析完整模塊, 此模塊基本包括專
業(yè)級軟件所有功能
|
包含RLq, RLo, RPC, RzJIS, R3z ...
|
|
光譜線及形態(tài)分析
|
|
測量點管理/再采集
|
|
主題相關(guān)參數(shù)
|
|
形貌及自相關(guān)聯(lián)分析
|
|
所有測量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
|
顯示/軟件
Trimos® NanoWare STT
3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及符合ISO 25178表面分析
|
3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)
|
|
表面圖形仿真
|
|
距離, 高度及角度測量
|
|
成型, 拉平, 視圖等濾波器
|
|
最終結(jié)果管理
|
|
測量點管理/再采集
|
|
輪廓提取, 體積測量
|
|
市場上最高性能的軟件
|
|
表面圖層研究
|
|
3D形貌鑒定
|
|
顆粒度研究
|
|
紋理分析
|
|
表面及輪廓統(tǒng)計分析及研究
|
主機
|
TR Scan
|
100
|
200
|
300
|
|
X軸測量范圍 mm
|
--
|
100
|
100
|
|
Y軸測量范圍 mm
|
--
|
--
|
100
|
|
Z軸垂直位移范圍 mm
|
240
|
||
|
XYZ定位精度 um
|
1
|
||
|
儀器重量 kg
|
800.25X0.25
|
||
DHM測量頭
|
DHM
|
S2
|
|
垂直最大分辨率(Z軸) nm
|
0.1
|
|
最大測量范圍(Ra) um
|
1
|
|
最大測量范圍(Rz) um
|
5
|
|
最大允許誤差(Ra) %
|
1%
|
|
重復(fù)性(Ra, 1σ) nm
|
<0.1
|
|
樣品反射率 %
|
<1%-100%
|
|
測量視野 mm
|
0.25X0.25
|
技術(shù)參數(shù)
色譜共焦測量頭
|
CCMP
|
CL 1
|
CL 2
|
CL 3
|
CL 4
|
CL 5
|
CL 6
|
|
垂直測量范圍 um
|
100
|
300
|
1100
|
3000
|
10000
|
20000
|
|
工作距離 mm
|
3.3
|
11
|
12.7
|
16.4
|
29
|
19.6
|
|
軸向分辨率 um
|
0.005
|
0.012
|
0.025
|
0.075
|
0.280
|
0.600
|
|
軸向精度 um
|
0.02
|
0.06
|
0.2
|
0.4
|
0.9
|
3
|
|
最大爬坡能力 deg
|
+/-43
|
+/-28
|
+/-27
|
+/-22
|
+/-14
|
+/-8.6
|
接觸式測量頭
|
DIA
|
P1
|
|
垂直最大分辨率(Z軸) nm
|
10
|
|
最大測量范圍(Ra) um
|
10
|
|
最大測量范圍(Rz) um
|
200
|
|
最大允許誤差(Ra) %
|
5%
|
|
重復(fù)性(Ra, 1σ) nm
|
<9
|
注：聯(lián)系我時，請說是在“傲立機床網(wǎng)”上看到的，謝謝！
